項(xiàng)目 | 檢驗(yàn)方法 | 性能要求 |
絕緣電阻 | （500±50）VDC | 無(wú)機(jī)械損傷，R1≥100MΩ |
高溫試驗(yàn) | 高溫貯存：70℃，2h；高溫工作：70℃，2h，通電時(shí)間：3s，通電次數(shù)：1次，通電電壓：（115±5）V | 無(wú)機(jī)械損傷，△R≤±（3%R±0.5Ω） |
低溫試驗(yàn) | 低溫貯存：-55℃，2h；低溫工作：-55℃，2h，通電時(shí)間：3s，通電次數(shù)：1次，通電電壓：（115±5V） | 無(wú)機(jī)械損傷，△R≤±（3%R±0.5Ω） |
沖擊試驗(yàn) | 波形：半正弦波，峰值加速度：15m/s2，持續(xù)時(shí)間：11ms | 無(wú)機(jī)械損傷，瓷管不應(yīng)有掉瓷和斷裂現(xiàn)象，支架、電阻絲無(wú)變形斷裂情況，緊固螺母不應(yīng)松動(dòng)和脫落 |
加速度試驗(yàn) | 4.5g，每個(gè)方向（X方向、Y方向、Z方向） |
隨機(jī)振動(dòng) | 功能試驗(yàn)：50~200Hz，功率譜密度0.6g2/Hz，1h（X方向、Y方向、Z方向），耐久試驗(yàn)量值為功能試驗(yàn)的1.6倍，時(shí)間為3h |
